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均豪攜IBM搶進全球IC分析檢測設備市場 下半年提供試樣機

鉅亨網 標誌 鉅亨網 2017/1/18 鉅亨網記者楊伶雯 台北

均豪 (5443-TW) 今 (18) 日與 IBM 簽署 PICA(Picosecond Imaging Circuit Analysis),皮秒影像線路分析系統)技術授權及共同開發合約,雙方將攜手拓展全球 IC 分析檢測設備市場,預計今年下半年可開始提供相關分析檢測測試樣機,2018 年起挹注營收。

均豪董事長葉勝發指出,該公司近 3 年來陸續完成 3 次和國際大廠的技術合作案,包括日本 MJC 的技術授權及共同開發與投資、日本住友精密 (SPP) 技術合作,今日再與 IBM 結親,未來將更深化研發,落實在台灣生根,配合政府十大新興產業政策,從智慧機器再到智慧製造系統,未來希望把台灣所有產業推上工業 4.0,成為智慧機器供應的中心。

葉勝發說,與國際大廠的合作,對均豪來說是屬跳躍式的成長,藉由引進世界級的技術和合作,不僅有助佈局及轉型,更由原本僅提供的應用技術提升至基礎技術領域,大幅提高台灣半導體設備的自製率,打開國際市場,增加均豪整體競爭力,對未來的營業額和毛利有極大的貢獻。

葉勝發說,近年來,半導體產業在新架構的技術發展上不斷持續朝向物理尺寸微小化方向進行,同時新的元件結構也陸續被發明,如鰭式場效電晶體 (FinFETs) ,更快速及更精確的偵錯 / 診斷方法及分析工具已然成為設計及代工分工模式的趨勢,光學測試和診斷工具 (optical testing and diagnostics tool) 就屬其中一環。

均豪總經理陳政興表示,藉由引進 IBM 的 PICA 檢測技術首度進軍 IC 分析檢測設備,預計從今年下半年度即可開始提供相關分析檢測測試樣機。

陳政興說,皮秒高敏度 IC 分析檢測設備 (PICA) 技術主要在協助提升代工 FA 的 IC 檢測能力 (特別針對先進製程產品)、協助 IC 設計的失效分析、幫助發現製程問題、並能有效提升生產良率。

陳政興強調,藉由這次國際技術合作的機會,將能有效拉近台美技術的距離,不僅有助均豪朝 IC 分析檢測設備發展往前邁進一大步,也對台灣半導體產業技術的發展有重大助益。

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