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日半導體展 愛德萬秀4大物聯網應用測試

中央通訊社中央通訊社 2016/11/25 鍾榮峰

(中央社記者鍾榮峰台北25日電)2016年SEMICONJapan國際半導體展預計12月登場,愛德萬測試(Advantest)將展示4大物聯網應用測試解決方案。

2016年SEMICON Japan國際半導體展即將於12月14日到16日在日本東京舉辦,半導體自動測試設備大廠愛德萬將針對物聯網各式應用展示測試解決方案。

愛德萬表示,展出的產品將以工業、無線/穿戴式裝置、智慧家居以及連網汽車等物聯網應用常見的4大類型為主。產品包括測試與測量平台、模組與通道卡、電子束測量與光刻工具、測試分類機、可供下載的測試程式、燒機測試系統、探針卡與現場服務等。

現場愛德萬也將透過虛擬實境(VR)展示以及數位繪圖,提供技術見解,秀出最新IC測試創新技術。

在12月15日下午自駕與車連網論壇上,愛德萬表示也將發表「物聯網社會與測試技術」的技術論文。

愛德萬近期積極布局奈米和太赫茲(terahertz)技術應用,近日推出有關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破技術限制的3D成像與分析工具。1051125

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